污垢熱阻測試儀用于測試IC、LED、散熱器、熱管等電(diàn)子器件的熱特性，通過改變電(diàn)子器件的輸入功率，使得器件産生(shēng)溫度變化，在變化過程中(zhōng)，測試出芯片的瞬态溫度響應曲線，僅在幾分(fēn)鍾之内即可分(fēn)析得到關于該電(diàn)子器件的全面的熱特性，可以實現LED器件和組件的光熱一(yī)體(tǐ)化測量。
儀器解決監測換熱器難以準确測量污垢熱阻值、污垢沉降速率 和不能直接觀察污垢熱阻變化全過程的這一(yī)難題，在這個基礎上實現對整個水處理性能指标進行分(fēn)析、比較、保存和打印各種曲線及報表等功能。當器件的功率發生(shēng)變化時，器件的結溫會從一(yī)個熱穩定狀态變到另一(yī)個穩定狀态，我(wǒ)們的儀器将會記錄結溫在這個過程中(zhōng)的瞬态變化曲線。
一(yī)次測試，既可以得到穩态的結溫熱阻數據，也可以得到結溫随着時間的瞬态變化曲線，瞬态溫度響應曲線包含了熱流傳導路徑中(zhōng)每層結構的詳細熱學信息（熱阻和熱容參數）。
一(yī)、主要功能：
1、準确測量污垢熱阻和直接觀察污垢熱阻變化的全過程；
2、采用單片機作主機，減少外(wài)圍部件，提高可靠性；
3、污垢熱阻測試儀可對多項試驗參數設定，适合多場合的試驗要求；
4、同時顯示瞬時污垢熱阻測量值和沉降速率測量值，并以對應的4-20mA信号輸出，輸出采用模塊化結構，功能配置方便靈活；
5、配有标準RS485通訊接口。
二、應用範圍：
1、各種三極管、二極管等半導體(tǐ)分(fēn)立器件，包括：常見的半導體(tǐ)閘流管、雙極型晶體(tǐ)管、以及大(dà)功率IGBT、MOSFET、LED等器件；
2、各種複雜(zá)的散熱模組的熱特性測試，如熱管、風扇等。
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